清华大学存储团队论文被体系结构顶级会议MICRO-46录用



近日,清华大学存储团队的论文被体系结构顶级会议MICRO-46上以研究长文的形式录用,论文题为《Aegis:利用数据分组对相变存储器的Stuck-at-Fault错误进行有效纠错》(Aegis: Partitioning Data Block for Efficient Recovery of Stuck-at-Faults in Phase Change Memory),清华大学计算机系博士研究生范捷为文章的第一作者,指导教师为舒继武教授。存储产业技术创新战略联盟j#d Y.F6j6J o3D

相变存储器(PCM)因其高性能和非易失等特点在嵌入式系统到高端服务器不同的领域中均得到广泛的关注。然而,PCM的寿命与DRAM相比仍然相差多个数量级,是制约其广泛应用的重要因素之一。当PCM中数据单元的寿命耗尽时,便会产生Stuck-at-Fault错误,并且产生该错误的数据单元内的数据将不能再被更改,但是仍然可以读取。纠正单一错误位,只需要将整个数据块的数据反转写入,读取时再反转读取,而纠多个这样的错误位就需要将数据块分组,并保证每个组内仅有一个错误位。已有的分组纠错方法纠n个错误其存储开销是O2^n)。存储产业技术创新战略联盟.lif oOB$EG

为了降低纠错存储开销,清华大学存储团队提出了一种新的分组纠错方法,纠n个错误其存储开销仅是On^2)。清华大学存储团队提出的方法是一种基于斜率的分组方法,不同的斜率产生不同的直线簇,同一直线簇代表一种分组配置。在一个分组配置中,有若干平行直线,在同一直线上的数据位为同一个组。这样通过改变斜率,产生不同的分组配置,可将原本位于一个组的数据位分别分配到不同的组中,当某个分组中有多个Stuck-at-Fault错误时,可以通过不断调整斜率来改变分组配置,从而保证每个组内仅有一个Stuck-at-Fault错误。该方法将纠错存储开销与纠错个数的指数级关系降到平方级关系,显著降低了纠错存储开销,且在相同存储开销情况下可显著提升PCM的写入寿命。

)g|A5X4skX z0 MICRO (International Symposium on Microarchitecture) 会议是计算机体系结构方向的顶级会议之一,创于1973年,今年(2013年)的录用率为16.3%。这是清华大学计算机系在相隔二十年之后再一次有论文被该会议录用,也是近二十年来国内大陆研究单位作为第一完成单位在该会议被录用的第三篇论文。这次论文被录用是清华大学存储团队在该会议发文的一次突破。

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